FAULT TOLERAN UNTUK NANOSCALE MEMORY MENGGUNAKAN REED SOLOMON CODE

Abstract

Industri chip silikon berlomba mengikuti hukum Moore, yang menjadikan ukuran transis-tor tambah mengecil menuju orde nano meter yang disebut dengan nanoelektronik. Pera-latan pertama yang diprediksi bakal menerapkan teknologi nanolektronik adalah memori, karena keteraturan struktur sel memori memnyebabkan memori lebih mudah dibuat da-lam ukuran nanometer, yang disebut dengan nano memori.

Ukuran transistor atau peralatan chip silikon lainnya yang sangat kecil menyebabkan fe-nomena fisis pada chip silikon tadi akan berubah. Hal ini berarti juga akan mengubah ka-rakteristik dari memori yang terbuat dari chip silikon. Salah satu fenomena tersebut ada-lah mudahnya nano memori terkena dampak paparan dari partikel kosmis yang menye-babkan error yang tidak permanen, yang disebut sebagai soft error.

Tulisan ini mengusulkan suatu teknik fault toleran untuk mitigasi soft error dengan meng-gunakan kode Reed Solomon. Teknik ini mempunyai karakteristik mampu memperbaiki error yang terjadi dalam suatu blok pada suatu kode data